CCD視覺檢 測(cè)優(yōu)勢(shì)

   高精度檢 測(cè)：能夠精 確地測(cè)量物體的尺寸、位置等參數(shù)，可檢 測(cè)到微小的缺陷，比如電子元器件引腳的細(xì)微彎曲、精密機(jī)械零件表面微米級(jí)別的劃痕等。

   高速度：可以快速連續(xù)采集和處理圖像，在生產(chǎn)線上實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)檢 測(cè)，滿足大規(guī)模、高 效率生產(chǎn)的節(jié)拍需求，像食品包裝流水線上對(duì)包裝外觀快速檢 測(cè)以剔除不合格品。

   客觀性與穩(wěn)定性：不像人工檢 測(cè)容易受主觀因素（如疲勞、情緒等）影響，只要系統(tǒng)設(shè)定好參數(shù)和算法，就能穩(wěn)定、客觀地輸出檢 測(cè)結(jié)果，保證檢 測(cè)質(zhì)量的一致性。

   非接觸式檢 測(cè)：無需與被檢 測(cè)物體直接接觸，避免了對(duì)物體可能造成的損傷，尤其適用于脆弱、高精度的零部件檢 測(cè)，例如對(duì)光學(xué)鏡片的檢 測(cè)。